显微镜观侧法是利用显微镜放大后直接观侧多孔材料孔径的一种办法.属于图像分析处理方法。它是在一定放大倍数的显擞镜下观察试样断面的组织结构，找出需要测健的孔径部位，通过标准刻度尺来度址试样的孔径位及孔的个数.从而侧定试样的孔...

荧光光学系统的成像质量主要取决于像的衬度和像的亮度, 像的衬度是由样品中激发出的荧光与背景上观察到的光之比决定的。背景光包括透过截止激发光的滤色片的杂散激发光, 样品组织成分的自发荧光和光学系统的自发荧光和杂散光, 在荧...